エドモンド・オプティクスが、すべての光学部品とアッセンブリ品の品質を保証するために使用する計測法について学びましょう。この計測法には、干渉計、シャックハルトマン波面センサー、プロファイロメーター、キャビティリングダウン損失測定機をはじめ、広範な工程内計測があります。エドモンドの計測法に関するさらなる情報は、https://www.edmundoptics.jp/capabilities/metrology/ をご覧ください。
測量することなしに製造はできません。エドモンド・オプティクスは、広範な計測機器を用い、世界中の製造拠点で製造される光学部品やアッセンブリ品が 公開するすべての仕様を満たすことを保証しています。 工程内計測は、エドモンド・オプティクスの厳格なISO9001グローバル 品質プログラムの重要な要素です。この計測により、エドモンド・オプティクスが プロセス制御と大量生産に必要な再現性を確保できるように なります。干渉計は、波長の20分の1までの高精度な 透過と反射波面測定に用いられます。エドモンドは、スティッチング、大口径、小口径、およびコンピューター合成ホログラムなど、複数の干渉計を使用します。白色干渉計はまた、高分散ミラーなどの超短パルスレーザーオプティクスにおいて、面粗さを計測し、群遅延分散を定量化します。現実の群遅延分散は、理論上の設計値からの乖離が他のほとんどの仕様のそれよりも大きくなる傾向があり、この測定がとりわけ重要になります。レーザービームエキスパンダーなどの一部のアッセンブリ品は、透過波面や反射波面誤差の計測に干渉計ではなく、シャックハルトマン波面センサーを使用しています。プロファイロメーターや三次元測定機 (CMM) は、光学部品の表面を探って、面の曲率、平面度および イレギュラリティを決定します。プロファイロメーターは、計測可能な形状のタイプにほとんど制限がなく、 非球面レンズの計測に最適になります。光学コーティングの 反射および透過分光特性は、分光測光法によって検証されます。高反射型または高透過型のオプティクスの場合、特定レーザーラインでの高精度な全損失測定を行うため、キャビティリングダウン法によるppmレベルの感度による測定が行われます。イメージングレンズアッセンブリの解像力やコントラストは、MTF もしくは 変調伝達関数用のテストベンチ、逆投影法、および特注の試験装置を用いてテストされます。微分干渉 もしくは DIC顕微鏡は、高感度の欠陥検出を行い、レーザー損傷の解析や、光学コーティングや基板などの透過材料に用いられます。環境試験装置は、特別な場合において、部品やアッセンブリ品が衝撃や振動、湿度や浸漬の要求事項を満たしているかを確認するために用いられます。エドモンドは、面粗さ用に原子間力顕微鏡、レンズ位置決め用にセントレーション測定機、角度確認用にオートコリメーターなど、 他の多くの計測技術を利用しています。こうした要求の厳しいすべての計測システムと、その操作を行う熟練した技術者は、エドモンド・オプティクスが、大量生産と少量生産の両方で、公開している仕様を 一貫して満たすことを確実にしています。製品のテストおよび 認証レポートは、ご要望に応じて対応可能です。 エドモンド・オプティクスの製造と計測対応力に関する詳細は、
www.edmundmanufacturing.jp をご覧ください。
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