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レチクル & ステージミクロメーター

Reticles are used to add measurement or comparison capability to a variety of microscopes. Reticles are clear discs marked with a scale or pattern. Reticles are available in a wide range of patterns, including crossline, micrometer scales, or grids. Stage micrometers are also available for calibrating microscope reticles or objective powers.

同心円パターンレチクル
同心円パターンレチクル
クロスラインレチクル
クロスラインレチクル
直尺スケールレチクル
直尺スケールレチクル
格子パターンレチクル
格子パターンレチクル
ネットグリッドパターンレチクル
ネットグリッドパターンレチクル
分度器パターンレチクル
分度器パターンレチクル
レチクル校正用ステージミクロメーター
レチクル校正用ステージミクロメーター
  • Features a Series of "H" Shaped Fiducial Images
  • Image Sizes from 0.1 to 20mm
  • Available with NIST Traceable Data
直読スケール (φ21mm)
直読スケール (φ21mm)
  • Designs for 1 to 5X Magnification
  • Provide Direct Measurement Capability for Standard Microscopes
  • 21mm Diameter Design
ステージミクロメーター (対物ミクロメーター)
ステージミクロメーター (対物ミクロメーター)
  • Reticle Scales Centered on Microscope Slides
  • Designed for Routine Calibration
  • 1 x 3" Slide Sizes

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