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解像力評価用

 解像力評価用のテストターゲットは、顕微鏡検査やイメージングといったアプリケーションに対して、イメージングシステムの精度や性能を評価するために用いられます。解像力評価用テストターゲットは、計測を行うために、イメージングシステム内に実装されます。解像力評価用テストターゲットは、システムの解像力を計測するロンキーやスターといった様々なパターンが選べます。また厳しい要求や精密測定用に、高精度モデルも選べます。

 エドモンド・オプティクスは、画像計測ニーズの多くに対応する広範な解像力評価用テストターゲットをご用意しています。解像力評価用テストターゲットは、使用者がイメージングシステムの精度を容易に計測することを可能にし、システムの長期使用後の性能を監視していくことで、システム寿命の長期化を可能にします。スターターゲットは、ウェッジ状の沢山の線で構成された円形パターンで、イメージングシステムが個々の線をどこまで区別できるかを見ることで解像力を計測します。ロンキーパターンを持つターゲットは、ウェッジ状ではない一連の密な線を同様に持ち、イメージングシステムの性能を計測します。解像力評価用テストターゲットの多くが、ガラススライドとフォトペーパーの両タイプでラインナップされています。

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高解像力顕微鏡用スライドターゲット
  • 最小パターン寸法 - 100nm と 3300本/mm
  • 高精度な電子ビームリソグラフィーを用いて製造
  • ネガパターンデザイン

USAFコントラストテストチャート
  • 反射型チャート
  • USAFパターンを15段階のコントラストで配列。撮像光学系の限界解像度をコントラスト別に評価
  • グレースケール (全15段階)も配置。階調再現性の評価も可能

1951 USAFテストターゲット
  • ガラス上にネガパターンかポジパターン
  • 2種類の基板サイズ
  • 保管ケースと空間周波数チャート付属
  • 645 本/mm までに対応した高解像度パターンもラインナップ

USAFフィールドテストチャート
  • 反射型チャート
  • USAFパターンを4:3のアスペクト比で配列。画面の中央と周辺部の限界解像度を一時に評価
  • USAFパターンは、各フィールド4段階のコントラストで配列。コントラストを含めた評価も可能

クリアパス1951 USAFテストターゲット
  • X線、UV、感熱、或いは遠赤外 (FIR)用撮像光学系の限界解像度評価用に
  • 透過照明用に最適
  • マウントを容易にする金枠付き

ロンキー・ルーリング
  • ガラス基板上にクロム蒸着
  • エッチング処理して黒色塗料を充填した同種製品よりも高精度
  • ガラス端に対して平行にパターン成形
  • 基板サイズ別に複数種ラインナップ
  • インチパターンとミリパターンの空間周波数

I3A/ISO解像度チャート
  • ISO 12233規格に準拠
  • アナログ/デジタルスチルカメラを用いた撮像光学系用にデザイン
  • 視野全体の解像度のキャリブレーションが可能
  • 被検カメラとレンズに合わせた3サイズをラインナップ

IEEE解像度チャート
  • TV解像度チャートのニュースタンダード
  • 標準的アナログカメラを用いた撮像光学系用にデザイン
  • 視野全体の解像度のキャリブレーションが可能
  • 水平解像度と垂直解像度の評価が一時に可能

NBS1963A 解像力ターゲット
  • ポジパターンとネガパターン (光学濃度 ≥3.0のクロム膜採用)
  • NBS 1010A規格に準拠
  • 空間周波数範囲 1~512本/mmに対応

ロンキー・ルーリングスライドガラス (オパールガラス基板)
  • オパール基板にパターンをクロム蒸着
  • 落射照明システムの解像力を評価
  • 高精度

ロンキー・ルーリングスライドガラス
  • 解像力やディストーション、及び同焦性安定性の評価用に使用
  • レチクルやフィールドキャリブレーションの要求向けに最適
  • フロートガラス、合成石英ガラス、蛍光コーティング付き合成石英ガラス、及びオパールガラスをラインナップ

ロンキー・ルーリング (オパールガラス基板)
  • 空間周波数固定タイプ
  • 基板全体にロンキーパターン
  • 基板寸法別に全2サイズ
  • 透過照明と落射照明の両方に対して効果的に機能
  • ガラス端に対して平行にパターン成形
  • ミリパターンとインチパターンを用意

USAF解像力テストチャート
  • 反射型チャート
  • フィールドチャートコントラストチャートよりも大型サイズ
  • USAFパターンを黒、赤、黄、青の4色で印刷。撮像光学系の限界解像度を、色集差を含めて評価
  • USAFパターンをランダムな向きに配置。非点収差の評価にも効果的

正弦波テストターゲット
  • MTF (変調伝達関数)テスト用にデザイン
  • 撮像光学系の総合的な画質評価が可能

スターターゲット
  • 焦点エラーや非点収差の確認に最適
  • 空間周波数が線形に変化
  • 白色フォトペーパーとガラス基板製のものをラインナップ

スターターゲットアレイ
  • フィールドポイント毎の収差の確認に
  • 透過型デザイン

USAF 1951 & ドットグリッドターゲット
  • 携帯に便利なポケットカードサイズ (51 x 70mm)
  • USAF 1951とグリッドディストーションパターンで構成
  • USAFパターンは、グループ0/ライン1 (1本/mm)からグループ3/ライン6 (14.25本/mm)までに対応
  • グリッドパターンは、ドット径1mm; ドット間距離2mm (中心点基準)の固定周波数パターン

USAFホイールターゲット
  • 対応空間周波数 4~228本/mm
  • 複数のフィールドポイントの評価が一時に可能
  • テスト時間の削減が可能

合成石英製 1951 USAFテストターゲット
  • 基板に合成石英ガラス (UVグレード)を使用
  • ネガパターンとポジパターンの2タイプ
  • UVイメージングシステムの限界解像度評価用に最適
  • UV光照射で蛍光発色する蛍光コーティングタイプもラインナップ

周波数変移ロンキー・ルーリング
  • 5~120本/mm, または5~200本/mmのパターン
  • 各空間周波数の幅は1mm
  • 空間周波数が5本/mm毎に段階的に変移 (但し120本/mm以上からは10本/mm毎)
  • ビデオシステムを校正するのに使用
  • 解像力が未知の光学系の評価用に最適

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