画像解析 & ステージミクロメーター
Image Analysis & Stage Micrometers Test Targets are used to evaluate or calibrate an image system's performance by measuring image quality standards such as resolution, contrast, or depth of field. Image Analysis & Stage Micrometers Test Targets detail a range of shapes or patterns that measure the accuracy of an imaging system by viewing them with an imaging lens. Image Analysis & Stage Micrometers Test Targets effectively determine the capabilities of an imaging system, allowing for accurate certification of performance as well as for establishing baseline standards for multiple systems working together.
ドット&スクエア・キャリブレーションターゲット
- 計測のキャリブレーション用にデザイン
- ガラス基板上にポジパターンかネガパターンをクロム蒸着
- 0.5~10mmのパターンサイズ撮像用の高コントラストターゲット
- NISTのトレーサビリティ認定証付属
二軸直尺スケールミクロメーター
- 二軸 (X軸 & Y軸)デザイン
- インチスケールとミリスケール
- 2種類のガラス基板 (フロートガラス & オパールガラス)が選択可能
- N.I.S.T.トレーサビリティの精度保証認定書が付いたN.I.S.Tバージョンも選択可能
EO テレセントリシティターゲット
- マシンビジョンシステムに不可欠なツール
- あらゆるタイプのレンズのキャリブレーション用に
- 広範な倍率に対応
イメージ解析ミクロメーター
- 光学測定機器の校正や性能評価用にデザイン
- 様々なパターンの8つのテストプレート
- NIST認証バージョンもラインナップ
KODAKイメージテストチャート
- コピー機／スキャナー用テストチャート
- 18種類以上のテストパターンで構成
マイクロライン & ドット見本用ミクロメーター
- 2種類のガラス基板 (フロートガラス & オパールガラス) が選択可能
- 画素ずらし処理のキャリブレーション用に
- 2~100μmまでの線 (ライン) と点 (ドット) に対応
低倍率用マルチキャリブレーション図票
- 光学倍率 0.08X~4Xの低倍率マシンビジョンシステム用にデザイン
- 透過、及び反射照明のどちらにも対応
- MTF, 解像力, DOF (被写界深度), FOV (実視野), ディストーションの評価が可能
- NIST トレーサビリティ認定証付属
マルチキャリブレーション図票
- 顕微鏡やマシンビジョンシステムの評価やキャリブレーション用にデザイン
- ロンキールーリングに同心円パターンや格子パターン、更には直尺スケールを網羅
- 被検レンズの光学倍率に合わせて2種類をラインナップ
- NISTトレーサビリティ
マルチグリッド見本用ミクロメーター
- 高倍率イメージングシステムのキャリブレーション用に
乳白色ガラスレチクルターゲット
- 十字線, インデックス付き格子, あるいは同心円パターン
- 乳白色ソーダライムガラス基板
- 27mm径レチクル
デジタルマイクロメーター付き位置決めステージ
- 0.001mm の分解能で直読可能なマイクロメーター
- インチかミリで読み出し
- インチねじパターンとミリねじパターンでラインナップ
レチクル校正用ステージミクロメーター
- 一連のH型標準パターンで構成
- 0.1 から 20mm までのイメージサイズ
- NIST トレーサブルデータ付きバージョンもラインナップ
ステージミクロメーター (対物ミクロメーター)
- 顕微鏡用スライドガラス上中央にレチクルスケール
- 定期的なキャリブレーション用にデザイン
- 25.4 x 76.2mm スライドガラス
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