• 国/地域をご選択ください。
  • こんにちは、 マイアカウント
  •   
 
製品群ページ用ID 製品群ページ用IDは、各製品群ページを識別するためのもので、キーワード検索にこの番号を入力することで対象の製品群ページにすばやくアクセスすることができます。 #2826

レチクル校正用ステージミクロメーター

  • Features a Series of "H" Shaped Fiducial Images
  • Image Sizes from 0.1 to 20mm
  • Available with NIST Traceable Data

 0.1~20mmまでのサイズを持つ一連のH型パターンが施されたステージミクロメーターです。無色透明な板ガラス基板 (寸法は25 x 75 x 1.4mm)に、OD値2.0以上 (透過率換算で1%未満)の特性を持つ丈夫なクロムコーティングでパターンを施しています。N.I.S.T. (米国標準技術研究所)のトレーザビリティが取れたN.I.S.T.バージョン (テストデータ付き)と、トレーザビリティが取れていない廉価版の標準タイプが選べます。

共通データ

 
Pattern Length (mm) Pattern Height (mm) Line Width (μm)
0.10, 0.25, 0.50, 0.75 0.50 10
1.00, 2.50, 5.00, 7.50 1.00 20
10.0, 15.0, 20.0 3.00 40

お見積りは必要ですか? 商品コードをご入力ください。2段階の見積りプロセスを開始します。

Edmund Optics Facebook Edmund Optics Twitter Edmund Optics YouTube Edmund Optics LinkedIn Edmund Optics Instagram

×