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レーザー用対物レンズ

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ReflX™反射型対物レンズ ReflX™反射型対物レンズ
TECHSPEC® components are designed, specified, or manufactured by Edmund Optics. TECHSPEC® ブランドの製品は、エドモンド・オプティクスによってデザイン、規格化、あるいは製造されます。もっと詳しく
  • 業界屈指の19~31mmの作動距離
  • 一点集光またはイメージングアプリケーションに向けた EO 自社設計・製造品
  • 能動的アライメントにより最善性能を実現
  • 超広波長帯域において色収差ゼロ
  • TECHSPEC® 高性能 ReflX™ 対物レンズもラインナップ
高性能ReflX™反射型対物レンズ 高性能ReflX™反射型対物レンズ
TECHSPEC® components are designed, specified, or manufactured by Edmund Optics. TECHSPEC® ブランドの製品は、エドモンド・オプティクスによってデザイン、規格化、あるいは製造されます。もっと詳しく
  • 回折限界性能: λ/14 (RMS) の透過波面精度
  • 鏡筒先端部に使い勝手に優れた45°テーパー形状加工を採用
  • 副鏡の設置は光の回折効果を緩和するために曲線状固定治具を採用
  • TECHSPEC® Reflx™ 対物レンズもラインナップ
ミツトヨ M Plan NIR, NUV & UVシリーズ 無限補正対物レンズ ミツトヨ M Plan NIR, NUV & UVシリーズ 無限補正対物レンズ
Top Seller
  • UV, 可視, NIR スペクトル域での明視野イメージング用に最適
  • Nd:YAG レーザーラインで卓越した性能
  • 広いスペクトル領域
ミツトヨ M Plan APO シリーズ 無限補正対物レンズ ミツトヨ M Plan APO シリーズ 無限補正対物レンズ
Top Seller
  • 長作動設計
  • 明視野観察用
  • 高品質プランアポクロマートデザイン
  • 視野全体にわたりフラットな像面

レーザーオプティクス

Laser Microscopy is used to image samples through the use of focused laser beams. In general Laser Microscopy applications, a sample is scanned by a focused laser beam and the intensity of the reflected beam is converted to a digital image. Confocal microscopy, also known as confocal laser scanning microscopy, offers various advantages over traditional wide-field microscopy, such as enhanced resolution, targeted imaging location, and higher image depth. Common laser microscopy techniques include super-resolution microscopy, fluorescence microscopy, and two- or multi-photon microscopy.

Edmund Optics offers a range of Laser Microscopy objectives in finite and infinite conjugate styles for use with common laser wavelengths, such as those of popular laser diodes or Nd:YAG harmonics. Our TECHSPEC® ReflX™ Objectives are reflective microscope objectives that can efficiently focus laser light without introducing any chromatic aberration. These objectives feature a rugged design to withstand exposure to moderate heat or abrasion and are ideal in applications that range from FTIR spectroscopy to semiconductor inspection. TECHSPEC® High Performance ReflX™ Objectives are also available, providing better peak-to-valley transmitted wavefront and a design that allows for angles of incidence up to 45°. Mitutoyo Objectives, with excellent performance at Nd:YAG harmonics, are ideal for integration into semiconductor inspection or laser cutting applications.

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