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レチクル校正用ステージミクロメーター


 0.1~20mmまでのサイズを持つ一連のH型パターンが施されたステージミクロメーターです。無色透明な板ガラス基板 (寸法は25 x 75 x 1.4mm)に、OD値2.0以上 (透過率換算で1%未満)の特性を持つ丈夫なクロムコーティングでパターンを施しています。N.I.S.T. (米国標準技術研究所)のトレーザビリティが取れたN.I.S.T.バージョン (テストデータ付き)と、トレーザビリティが取れていない廉価版の標準タイプが選べます。

共通データ

 
Pattern Length (mm) Pattern Height (mm) Line Width (μm)
0.10, 0.25, 0.50, 0.75 0.50 10
1.00, 2.50, 5.00, 7.50 1.00 20
10.0, 15.0, 20.0 3.00 40

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