BeamR2-Si InGaAs Scanning Slit Beam Profiler

• 190~1150nm or 190~1800nm までの使用に向けてデザイン
• 2µm ~ 4mmのビーム径を測定
• ロバストで使いやすいソフトウェア

DataRay スリットスキャン式ビームプロファイラーは、シリコンディテクターを搭載し、190~1150nm or 190~1800nmのスペクトル範囲に対して最適にします。2.5µmスリットとより大きなナイフエッジスリットを装備するBeamR2は、最小2µmまでの直径を持つビームを測定することができます。スリットスキャニング装置は、カメラベースのシステムよりもはるかに高い解像度があり、連続波やパルスレーザー光源の両方に対応します。DataRay スリットスキャン式ビームプロファイラーは、光学アッセンブリや装置のアライメント、フォーカシングやアライメントエラーのリアルタイム診断、また複数のアッセンブリを同一焦点にリアルタイム設定するのに最適です。このプロファイラーは、USB 2.0で駆動し、3m長のUSB 2.0ケーブル付属です。