BWA-CAM NIR Multi Spot Beam Profiler and M2 Measurement

• ビームプロファイル、M²、セントロイド、非円隔差、真円度、および非点隔差をリアルタイム分析
• CWやシングルパルス機能を持つパルスレーザーに対応
• レーザー開発、品質管理、および光学システムモニタリングに最適
• ISO 11146とISO 13694準拠

Haas Laser Technologies BWA-CAM M² アナライザカメラは、UV、可視、あるいはIR波長構成の連続波やパルスレーザーのM²測定をリアルタイムで行います。シンプルな「ワンボタン」キャリブレーションを装備するこのシステムは、単一パルスからのM²測定に対応可能で、ダイナミックレーザーシステムやシングルショットレーザーシステムに最適にします。ISO 11146とISO 13694規格に準拠して作られるBWA-CAMは、M²、ビームプロファイル、セントロイド、真円度、および非点隔差をはじめとする重要な空間ビームパラメータの正確な評価を行います。Haas Laser Technologies BWA-CAM M² アナライザカメラは、光学システムの劣化を早期に検出し、レーザー性能を最適化することで、最大限の品質とプロセスの安定性を可能にします。モジュラー設計のBWA-CAMは、幅広いレーザー波長やアプリケーション環境をサポートし、その測定精度の高さとリアルタイムデータ取得により、研究開発、製造、およびレーザーシステム診断に不可欠なツールになります。