Extreme Solarization-Resistant Reflection/Backscatter Probe

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仕様

概要

モデルナンバー:

QR450-7-XSR

光学的特性

波長範囲 (nm):

180 - 1100

法規制対応状況

RoHS 2015/863:

適合

適合証明書:

内容を見る

Reach 250:

適合

商品詳細

拡散/正反射、後方散乱 & 蛍光用の多用途サンプリング
VIS–NIR (400–2100nm)、UV–VIS (180–1100nm)、および耐ソラリゼーションモデル
耐久性のある被覆部、フェルール & 耐ソラリゼーションファイバー
超低損失ファイバーを採用して過酷なUV暴露に対応する極端なソラリゼーション耐性 (XSR) プローブ
Ocean Optics社製のスペクトロメーター & アクセサリー製品に直接接続

Ocean Optics 反射/後方散乱用プローブは、固体、溶液、あるいは粉末の拡散や正反射率、後方散乱、または蛍光を測定するコンパクトなファイバー結合サンプリングツールで、Ocean Optics スペクトロメーター & アクセサリーに直接接続します。被検サンプルの色、外観、および化学組成の定量分析を可能にします。反射率測定のルーチン業務から要求の厳しいUV測定まで、VIS-NIR、耐ソラリゼーション、あるいはXSRモデルの中からアプリケーションに応じて選定ください。Ocean Optics 反射/後方散乱用プローブは、UVアプリケーションに最適化することができ、XSRプローブは過酷なUV露光に耐えるようにデザインされた超低損失ファイバーを採用します。