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Cyber Sale テストターゲット!

ロンキー・ルーリング ロンキー・ルーリング
  • ガラス基板上にクロム蒸着
  • エッチング処理して黒色塗料を充填した同種製品よりも高精度
  • ガラス端に対して平行にパターン成形
  • 基板サイズ別に複数種ラインナップ
  • インチパターンとミリパターンの空間周波数
ロンキー・ルーリングスライドガラス ロンキー・ルーリングスライドガラス
  • 解像力やディストーション、及び同焦性安定性の評価用に使用
  • レチクルやフィールドキャリブレーションの要求向けに最適
  • フロートガラス、合成石英ガラス、蛍光コーティング付き合成石英ガラス、及びオパールガラスをラインナップ
固定周波数パターン グリッドディストーション図票 固定周波数パターン グリッドディストーション図票
  • 画像システムのディストーション測定やキャリブレーション用に
  • ソーダライムガラス上か乳白色ガラス上にクロムパターン
  • NIST トレーサビリティ認定書付属
在庫処分品 厚さ & 穴ゲージパターン コンパレーター用レチクル 厚さ & 穴ゲージパターン コンパレーター用レチクル
  • フィルム製レチクルよりも優れた安定性
  • 低反射クロム蒸着
  • 6 or 9Xのコンパレーターに対応
マルチスケール コンパレーター用レチクル マルチスケール コンパレーター用レチクル
  • フィルム製レチクルよりも優れた安定性
  • 低反射クロム蒸着
  • インチあるいはミリサイズパターン
直尺スケールパターン コンパレーター用レチクル 直尺スケールパターン コンパレーター用レチクル
  • フィルム製レチクルよりも優れた安定性
  • 低反射クロム蒸着
  • インチあるいはミリ単位の直尺スケールパターン
合成石英製 & 蛍光式 USAF 1951 テストターゲット  合成石英製 & 蛍光式 USAF 1951 テストターゲット
  • UVイメージングか蛍光顕微鏡のキャリブレーション用にデザイン
  • 蛍光式ターゲットは365nmの励起波長、550nmの蛍光波長
  • ネガパターンとポジパターンのターゲットをラインナップ
在庫処分品 クロスラインスケールレチクル クロスラインスケールレチクル
  • 1X の対物レンズの倍率用にデザイン
  • 5 or 10mm スケール
  • 1.5mm 厚
USAF 1951 ホイールターゲット USAF 1951 ホイールターゲット
  • 対応空間周波数 4~228本/mm
  • 9つのターゲットを用いて複数のフィールドポイントのテストが一時に可能
  • テスト時間の削減が可能
格子パターン コンパレーター用レチクル 格子パターン コンパレーター用レチクル
  • フィルム製レチクルよりも優れた安定性
  • 低反射クロム蒸着
  • インチあるいはミリサイズのインデックス付き格子マスパターン
クロスラインパターン コンパレーター用レチクル クロスラインパターン コンパレーター用レチクル
  • フィルム製レチクルよりも優れた安定性
  • 低反射クロム蒸着
  • 実線あるいは破線の十字線パターン
拡散反射グリッドディストーション図票 拡散反射グリッドディストーション図票
  • セラミック製ターゲットを模倣した拡散反射率処理
  • 基板上にクロムパターン
  • 光軸あるいは非軸からの照明光でグレアの発生なし
  • 落射照明を用いた測定に最適
NBS1963A 解像力ターゲット NBS1963A 解像力ターゲット
  • ポジパターンとネガパターン (光学濃度 ≥3.0のクロム膜採用)
  • NBS 1010A規格に準拠
  • 空間周波数範囲 1~512本/mmに対応
在庫処分品 周波数変移ロンキー・ルーリング 周波数変移ロンキー・ルーリング
  • 5~120本/mm, または5~200本/mmのパターン
  • 各空間周波数の幅は1mm
  • 空間周波数が5本/mm毎に段階的に変移 (但し120本/mm以上からは10本/mm毎)
  • ビデオシステムを校正するのに使用
  • 解像力が未知の光学系の評価用に最適
円スケールパターン コンパレーター用レチクル 円スケールパターン コンパレーター用レチクル
  • フィルム製レチクルよりも優れた安定性
  • 低反射クロム蒸着
  • 分度器, 同心円 あるいは 同心スクエアパターン
New 高解像力顕微鏡用スライドターゲット 高解像力顕微鏡用スライドターゲット
  • 最小パターン寸法 - 100nm と 3300本/mm
  • 高精度な電子ビームリソグラフィーを用いて製造
  • ネガパターンデザイン
USAF 1951 & ドットグリッドターゲット USAF 1951 & ドットグリッドターゲット
  • 携帯に便利なポケットカードサイズ (51 x 70mm)
  • USAF 1951とグリッドディストーションパターンで構成
  • USAFパターンは、グループ0/ライン1 (1本/mm)からグループ3/ライン6 (14.25本/mm)までに対応
  • グリッドパターンは、ドット径1mm; ドット間距離2mm (中心点基準)の固定周波数パターン
ライングリッドターゲット ライングリッドターゲット
  • ビジョンシステムのディストーションのテストと補正用に
  • 顕微鏡ステージでの視差エラーのキャリブレーション用に
  • 物理的な実視野寸法の測定用に
ドット&スクエア・キャリブレーションターゲット ドット&スクエア・キャリブレーションターゲット
  • 計測のキャリブレーション用にデザイン
  • ガラス基板上にポジパターンかネガパターンをクロム蒸着
  • 0.5~10mmのパターンサイズ撮像用の高コントラストターゲット
  • NISTのトレーサビリティ認定証付属
ロンキー・ルーリングスライドガラス (オパールガラス基板) ロンキー・ルーリングスライドガラス (オパールガラス基板)
  • オパール基板にパターンをクロム蒸着
  • 落射照明システムの解像力を評価
  • 高精度
ロンキー・ルーリング (オパールガラス基板) ロンキー・ルーリング (オパールガラス基板)
  • オパールガラス基板上にクロム蒸着
  • 高精度
  • ミリパターンとインチパターンを用意
スターターゲットアレイ スターターゲットアレイ
  • フィールドポイント毎の収差の確認に
  • 透過型デザイン
低倍率用マルチキャリブレーション図票 低倍率用マルチキャリブレーション図票
  • 光学倍率 0.08X~4Xの低倍率マシンビジョンシステム用にデザイン
  • 透過、及び反射照明のどちらにも対応
  • MTF, 解像力, DOF (被写界深度), FOV (実視野), ディストーションの評価が可能
  • NIST トレーサビリティ認定証付属
在庫処分品 EO マシンビジョン・ステージミクロメーター EO マシンビジョン・ステージミクロメーター
  • NISTにトレーサブルな精度認定書付属
  • ビジョンシステムの迅速なキャリブレーションに最適
  • 丈夫な保管ケース付き
マルチキャリブレーション図票 マルチキャリブレーション図票
  • 顕微鏡やマシンビジョンシステムの評価やキャリブレーション用にデザイン
  • ロンキールーリングに同心円パターンや格子パターン、更には直尺スケールを網羅
  • 被検レンズの光学倍率に合わせて2種類をラインナップ
  • NISTトレーサビリティ
在庫処分品 EIAグレースケールパターンスライド EIAグレースケールパターンスライド
  • ビデオキャリブレーション用
  • グレースケールの半永久的スタンダード
  • カメラのダイナミックレンジの評価・比較に
在庫処分品 乳白色ガラスレチクルターゲット 乳白色ガラスレチクルターゲット
  • 十字線, インデックス付き格子, あるいは同心円パターン
  • 乳白色ソーダライムガラス基板
  • 27mm径レチクル
カラーチェッカー カラーチェッカー
  • 真のカラーバランスをテスト
  • 自然色、有彩色、原色、グレースケールで構成
  • 科学的にデザインされた30色までのパッチ
格子パターンレチクル 格子パターンレチクル
  • 1X の対物レンズの倍率用にデザイン
    インデックス付きの格子パターン
    19 or 21mm 径レチクル
ステージミクロメーター (対物ミクロメーター) ステージミクロメーター (対物ミクロメーター)
  • 顕微鏡用スライドガラス上中央にレチクルスケール
  • 定期的なキャリブレーション用にデザイン
  • 25.4 x 76.2mm スライドガラス
ネットグリッドパターンレチクル ネットグリッドパターンレチクル
  • 1X の対物レンズの倍率用にデザイン
  • 視野全体にわたりネットグリッド格子パターン
  • 19 or 21mm 径バージョン
USAF解像力テストチャート USAF解像力テストチャート
  • 反射型チャート
  • フィールドチャートコントラストチャートよりも大型サイズ
  • USAFパターンを黒、赤、黄、青の4色で印刷。撮像光学系の限界解像度を、色集差を含めて評価
  • USAFパターンをランダムな向きに配置。非点収差の評価にも効果的
クロスラインレチクル クロスラインレチクル
  • 1X の対物レンズの倍率用にデザイン
  • 十字線パターン
  • 19 or 21mm 径バージョン
KODAKイメージテストチャート KODAKイメージテストチャート
  • コピー機/スキャナー用テストチャート
  • 18種類以上のテストパターンで構成
Image Analysis Micrometers イメージ解析ミクロメーター
  • 光学測定機器の校正や性能評価用にデザイン
  • 様々なパターンの8つのテストプレート
  • NIST認証バージョンもラインナップ
 
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