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セラミック基板のテストターゲットと同様、本製品は照明光を拡散反射するよう表面を処理しています。これによりテストパターン面でグレアが発生するのを防止し、ディストーションの正確な評価を容易にします。得られた計測結果を反映することで、より精度の高い画像計測が可能です。なおドットの中心点位置は、画像処理ソフト内のBlob解析機能により見つけることが可能です。2種類の基板サイズと3種類のドット周波数をラインナップ。広角レンズから望遠レンズに至るまで、幅広いカメラレンズ製品に使用することができます。
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