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波長板と位相差板の用語、仕様、製作、構造。及び、正しい波長板の選定やアプリケーション事例について。位相差板としても知られる波長板は、光を透過し、ビームを減衰、偏位、あるいは変位させることなく、その偏光状態を修正します。波長板は、偏光の一つの成分をそれが直交する成分に対して位相を遅らせる (遅延させる) ことによって偏光状態を変化させます。

偏光板は、特定の偏光を選別するために使用されます。ここでは偏光板(ポラライザー)を理解する際に重要な偏光の原理と仕組みから解説します。

The thermal properties of optical substrates including the CTE, dn/dT, and thermal conductivity are critical for predicting real-world performance

Wavelengths can be both valuable or hazardous when trying to obtain information from an imaging system. Learn more about fixing wavelength issues at Edmund Optics.

Edmund Optics' component list and steps provided are used to successfully build an Optical Isolator.

Dispersion is the dependence of the phase velocity or phase delay of light on another parameter, such as wavelength, propagation mode, or polarization.

光学フィルターの原理と構造、光学フィルターで用いられる各種用語（中心波長やバンド幅など）、及び光学フィルターの種類と選び方、ラマン分光などのアプリケーション事例をご紹介しています。

Want to learn more about metallic mirror coatings? Find information about standard and custom metallic mirror coatings that are available at Edmund Optics.

Learn more about White Diffusing Glass, which reduces the scattering of light and homogenizes the light source, at Edmund Optics.

While working with machine vision, there are different types of filters that can be used to alter the image. Find out about the different types at Edmund Optics.

反射防止膜は、透過率を増やす、コントラストを高める、またゴースト像の発生を取り除くことによって、光学素子の効率を大幅に改善させます。

How are ultra-thin filters different from standard optical filters? Discover the unique features and capabilties of ultra-thin filters at Edmund Optics.

Unsure which side of your filter should face the light source? Learn how to determine the filter orientation of your TECHSPEC filter at Edmund Optics.

Metrology is critical for ensuring that optical components consistently meet their desired specifications, especially in laser applications.

The Off-Axis Parabolic Mirror Selection (OAP) Guide refines your search for an OAP mirror from Edmund Optics.

Have a question about short-wave infrared (SWIR)? Find definitions, application uses, and examples at Edmund Optics.

Spherical aberrations occur in any spherical optic and causes system performance to decrease. Learn how spherical aberration compensation plates can help at Edmund Optics.

レーザー誘起損傷閾値 (LIDT) としても知られるレーザー損傷閾値 (LDT) は、光学部品をレーザーアプリケーションに実装する際に考慮すべき最も重要な仕様の一つです。エドモンド・オプティクスは、ARコートが施されたTECHSPEC® レンズ製品の多くに対し、レーザー損傷閾値 (レーザー耐力) か典型エネルギー密度限界のいずれかのスペックを規定しています。

Neutral Density (ND) Filters are designed to evenly reduce transmission. For more information on specifications and products, read more at Edmund Optics.

Understanding the most commonly used laser optics materials will allow for easy navigation of EO’s wide selection of laser optics components.

Want to know more about high-power optical coatings? Find out more about the importance, fabrication, and testing at Edmund Optics.

The short pulse durations of ultrafast lasers make them interact with optical components differently, impacting the optic’s laser damage threshold.

光学部品（レンズ、フィルターなど）における、ソフトコーティングとハードコーティングのコーティング方法について、ソフトコートとハードコートの性能の違いや比較、及びハードコーディングの利点など。

ビームスプリッターは、入射光を所定の分割比で2つの光に分割する光学部品です。また可逆的に、2つの光の重ね合わせにも応用できます。代表的な形状に、キューブ型とプレート型があります。キューブ型とプレート型の比較や偏光/無偏光の光学特性についてご説明します。

Light is absorbed in optical media through several methods including exciting electrons to higher energy states and converting to thermal energy

Want to know more about fluorophores and optical filters for fluorescence microscopy? Find out more information and in stock optical filters at Edmund Optics.

Do stock filters not meet your bandwidth or CWL requirements? Learn how custom bandpass filters are created using short or longpass filters at Edmund Optics.

赤外透過材料の物理的特性は各種一様ではないため、各材料の特長を知ることでIRアプリケーションに対する正しい材料の選定が可能になります。ここでは赤外の概論から、正しい材料を用いる重要性、正しい材料の選定、赤外透過材料の比較を紹介します。

Many challenges can arise when aligning a laser beam; knowing specific tips and tricks can help simplify the process. Learn more at Edmund Optics.

Fluorescence imaging systems are composed of three major components, an illumination source, a photo-activated fluorophore sample, and detector.