Coherent® LightSmyth™ 855nm, 200nm Groove Depth, 12.5mm Sq. Linear Silicon Nanostamp

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Period (nm):
855 ±42.75
Groove Depth (nm):
200 ±30
Line Width (nm):
425
寸法 (mm):
12.50 x 12.50
有効径 CA (mm):
11.50 x 11.50
コーティング:
Uncoated
構造:
RIE Grating
全長 (mm):
12.50
モデルナンバー:
1304075
基板: Many glass manufacturers offer the same material characteristics under different trade names. Learn More
Single Crystal Silicon
表面品質 (キズ-ブツ):
60-40 (within CA)
全厚 (mm):
0.68 ±0.05
タイプ:
Nanopatterned Silicon Stamp
全幅 (mm):
12.50

環境規制対応状況

RoHS 2011/65:
適合証明書:

製品群全体の紹介

  • ナノスケールテクスチャーの溝付き面
  • 溝の周期と深さ別にラインナップ
  • ナノフォトニクス研究用途に最適

Coherent® LightSmyth™ ナノパターン シリコンスタンプは、単結晶シリコン基板上のパターン化されたナノスケールテクスチャーで構成されます。反応性イオンエッチングにより、従来型のグレーティングに似た、台形の断面形状をもつ線形溝が基板面内にエッチングされています。エッチングプロセスによって溝の周期と深さを変えられ、格子の様なより複雑なパターンを作ることができます。Coherent® LightSmyth™ ナノパターン シリコンスタンプは、オプティクスやフォトニクス、生物学、化学、ナノインプリント、マイクロ流体工学の分野におけるナノフォトニクス研究アプリケーションに最適です。

補足: II-VI社は現在Coherent社になっています。

SEM Image of 855nm, 200nm Groove Depth Linear Silicon Nanostamps (Cross Section)
SEM Image of 855nm, 200nm Groove Depth Linear Silicon Nanostamps (Cross Section)
SEM Image of 855nm, 200nm Groove Depth Linear Silicon Nanostamps (Top Down)
SEM Image of 855nm, 200nm Groove Depth Linear Silicon Nanostamps (Top Down)
 
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