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測量


  最先端の計測システム

  社内で可能な光学アッセンブリ試験

  50名以上の従業員が品質保証に従事

  ご希望に応じて試験&認証レポートを提供

概要

エドモンド・オプティクス (EO) では、世界に5箇所ある製造拠点で製造される光学部品や光学アッセンブリの品質確保のために、さまざまな計測機器を導入しています。また、画像性能試験や温度、湿度、衝撃、振動に対する環境試験も社内で実施しています。EOは、特注の光学アッセンブリの要件に合わせた試験にも実績があります。ご希望に応じて製品試験&認証レポートも提供可能です。干渉計、プロファイロメーター、分光光度計、三次元測定機 (CMM) などの当社の計測機器は、EOの厳密なグローバル品質プログラムの一環です。このプログラムについての詳細は、品質のページをご参照ください。

対応力

光学測量の対応力

  • 干渉計、プロファイロメーター、三次元測定機 (CMM) など、多くの光・機械計測器
  • 光放射計測: 迷光、グレアなど
  • 準自動化されたMTF計測設備
  • Varian製およびPerkinElmer製の分光光度計によるUV/VIS/NIRコーティングの特性評価
  • 振動、湿度、浸水といった耐環境試験
  • 全社で50名を超える従業員が品質保証に従事
  • ご希望に応じて製品試験&認証レポートを提供

社内で可能な光学アッセンブリ試験

  • MTF
  • 迷光
  • テレセントリシティ
  • 波面歪み
  • 白色干渉計
  • 機械形状測定
  • その他多数!

最先端の計測機器

Aspheric Equipment
Zygo®製 VeriFire™ 高解像干渉計

測量マスター Pat McKenna がお手伝いします

EOには、光学エンジニアの「測量マスター」こと Pat McKenna がいます。Patは、サイズや公差にかかわらず、お客様のオプティクスを最大限の精度で計測するお手伝いをします。波長レベルの精度が必要な場合でも、測量はお任せください。ご連絡をお待ちしています!

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追加資料

アプリケーションノート

理論的説明や公式、図解などを網羅した技術情報やアプリケーション実例です。

レーザー損傷閾値試験
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Optical Flats
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EO Preferred Glasses
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光学的仕様への理解
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表面品質スペックをU.S.規格 MIL-PRF-13830B に基づき理解する
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雑誌記事・論文

業界専門紙に掲載されたエドモンド・オプティクスのエンジニアやマネジメントチームが執筆した技術論文へのリンクです。

The Long and Short of It: Techniques for Measuring Aspheres
進む  

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